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Software CAD CFI übertrug Okular Elektronenmikroskop Trinocular HD für Elektronik

Bescheinigung
China Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd. zertifizierungen
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Software CAD CFI übertrug Okular Elektronenmikroskop Trinocular HD für Elektronik

Software CAD CFI übertrug Okular Elektronenmikroskop Trinocular HD für Elektronik
Software CAD CFI übertrug Okular Elektronenmikroskop Trinocular HD für Elektronik

Großes Bild :  Software CAD CFI übertrug Okular Elektronenmikroskop Trinocular HD für Elektronik

Produktdetails:
Herkunftsort: China
Markenname: Phidix
Zertifizierung: IATF16949,CE
Modellnummer: M10108
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: Verkäuflich
Preis: Negotiable
Verpackung Informationen: Karton
Lieferzeit: 15-20 Arbeits-Tage
Zahlungsbedingungen: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 1000 PCS/Month

Software CAD CFI übertrug Okular Elektronenmikroskop Trinocular HD für Elektronik

Beschreibung
Farbe: Weiß Kundenbezogenheit: SOEM, ODM
Verpackung: 1 PC/Carton Garantie: 1-jährig
Drawtube: Trinocular Theorie: Metallurgisches Mikroskop
Vorbereitungszeit: 15-20 Arbeitstage Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 1000 PCS/Month
Anwendung: Maschinerie, Elektronik, Plastik etc. Okular: Okular CFI 10x10 HD
Objektiv: 5 Sätze Ziele X-/Ymaßgenauigkeit: 1,5 μm+L/150
Z-Achsenmaßgenauigkeit: 1,0 μm+L/150 Bugrad: Vierfacher Nosepiece
Linsenfaß: LV-TI 3 Trinocular Okular-Rohr Minimale Entschließung: 0.5/0.1μm
Markieren:

20X übertragenes 50X Elektronenmikroskop

,

CFI übertragenes 10x10 Elektronenmikroskop

,

LV-TI 3 trinocular Mikroskop für Elektronik

 

Cad-Software Toolmakers-messendes Mikroskop

 

Toolmakers-messendes Mikroskop Software M10108 CAD mit der Hilfe von CAD-Software, dieses Produkt kann im verschiedenen Industriegebiet angewendet werden. Das messende Videomikroskop, kombiniert mit starker mikroskopischer Inspektionstechnologie, ist eine integrierte Hochlineare Wiedergabe, Mikrometer-Industrie-gezielte Messgeräte.

 

Eigenschaften:

 

- Zu Länge in den kartesischen Koordinaten messen. Zum Beispiel messende Neigung, der niedrige Oberflächenabstand, und so weiter graviert Zeilenabstand, gravierte Linienbreite, Schlitzbreite, aufgeschlitzte Breite, der Außendurchmesser des Durchlochs.

- Es macht zu ein Messverfahren der Vision und erzielt BerufsmaßDatenverwaltung mit PC und starker Metrologie-Software.

- Für Winkelmaß wie Skala, Schablonen, Messgeräte, Bohrschablone und jene Teile mit komplexer Struktur.

- Verwendet als Beobachtungsmikroskop, um das Oberflächenende des Werkstückes durch Rechtsvergleichung zu kontrollieren, identifizieren Sie Erzproben in der Hüttenindustrie, photomechanischer Drucktest, Inspektion von Textilfasern und so weiter.

 

Einzelteil Beschreibung/Wert
Optisches System: Optisches System der Korrektur der chromatischen Abweichung der Unendlichkeit
Kopf: Trinocular
Okular: Okular CFI 10x10 HD
Objektiv: HL M Plan Apo 5X, 10X, 20X, 50X
Linsenfaß: LV-TI 3 Trinocular Okular-Rohr
Optisches Teil: Optischer Kopf der professionellen differenzialen Störung
  Mehrschichtige beschichtende Technologie stellt Klarheit sicher
  Helle Weg- und Objektivbeobachtung der hohen Leistung
  Es wird mit LED-Oberflächenlicht und unterem Licht ausgerüstet.
Messbereich:

X-Achse: 150mm Minimum

Y-Achse: 100mm Minimum

Z-Achse: 150 Millimeter-Minimum

Minimale Entschließung: 0.5/0.1μm
Kraftübertragungssystem: Präzisions-Reiben der Kugelumlaufspindel C3
Kamera: DS-Vil Farbkamera-Kopf 2 Million Pixel HD CCD
Stadium: 150x100mm genaues Stadium

 

Software CAD CFI übertrug Okular Elektronenmikroskop Trinocular HD für Elektronik 0

 

Kontaktdaten
Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd.

Ansprechpartner: Johnny Zhang

Telefon: 86-021-37214606

Faxen: 86-021-37214610

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